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賽多利斯Sartorius BSA223S 電子天平 賽多利斯Sartorius 技術。賽多利斯Sartorius 高分辨率的應用程序中集中了更多功能：1mg-620g和10mg-6200g。賽多利斯將*技術和合理成本合二為一，創造了的等級

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PL402-L 精密天平功能和特點 緊湊性：便捷，緊湊的設計。 高性價比：具有天平該有的所有基本功能和特點。 實用性：操作簡單。 內置的過載保護功能 符合各國標準的AC適配器 下掛稱量的掛鉤 計件稱量 百分比稱量 可選的顯示增量實現快速稱量

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MS205DU 半微量天平精確稱量 采用梅特勒-托利多高分辨率稱量技術(HRT)，內置兩組砝碼。配合全自動校準技術(FACT)，確保天平自動完成校正和線性化。 MS205DU 半微量天平高效處理 減少每次稱量過程必須的操作步驟。左右手互換開關門(ErgoDoor)，實現一只手打開防風罩的同時，另一手進行加樣。

MS105DU 半微量天平精確稱量 采用梅特勒-托利多高分辨率稱量技術(HRT)，內置兩組砝碼。配合全自動校準技術(FACT)，確保天平自動完成校正和線性化。 MS105DU 半微量天平高效處理 減少每次稱量過程必須的操作步驟。左右手互換開關門(ErgoDoor)，實現一只手打開防風罩的同時，另一手進行加樣。

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ML204 分析天平內置單模塊傳感器(MonoBloc)和按鍵觸發的內置砝碼校正 ML204 分析天平采用單模塊傳感器(MonoBloc)，具有顯著的抗沖擊、抗過載性能，同時確保準確的稱量結果。按鍵觸發的內置砝碼校正，確保始終獲得精確的稱量結果。

梅特勒-托利多ML104 分析天平內置單模塊傳感器(MonoBloc)和按鍵觸發的內置砝碼校正 ML104 分析天平采用單模塊傳感器(MonoBloc)，具有顯著的抗沖擊、抗過載性能，同時確保準確的稱量結果。按鍵觸發的內置砝碼校正，確保始終獲得精確的稱量結果。

梅特勒-托利多ML54 分析天平內置單模塊傳感器(MonoBloc)和按鍵觸發的內置砝碼校正 ML54 分析天平采用單模塊傳感器(MonoBloc)，具有顯著的抗沖擊、抗過載性能，同時確保準確的稱量結果。按鍵觸發的內置砝碼校正，確保始終獲得精確的稱量結果。

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梅特勒 XP105DR 分析天平,超越系列XP105 DeltaRange分析天平的誕生, 梅特勒-托利多在XP105 DeltaRange 分析天平領域樹立起了又一里程碑。XP204 分析天平*的創新技術帶來了*的稱量性能，在人員，樣品和數據安全方面設置了新的標準。

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